• Introducción 

    SERVICIO DE ESPECTROSCOPÍA FOTOELECTRÓNICA
     

    El análisis de superficies de sólidos, orientado al trabajo científico y de investigación, es fundamental en el estudio de sus propiedades mecánicas, físicas y químicas. Las técnicas espectroscópicas fotoelectrónicas de análisis superficial se basan en el estudio de la energía de los electrones que emite el sólido cuando es irradiado con fotones de rayos X (espectroscopía fotoelectrónica de rayos X – XPS –) o ultravioletas (espectroscopía fotoelectrónica de rayos ultravioleta – UPS –). Dichas técnicas permiten la identificación de los elementos y proporcionan información detallada sobre el estado de los enlaces químicos y de la concentración de los átomos de superficie.
     
    Equipo
    Se dispone de un sistema de espectroscopía de electrones SPECS GmbH con sistema UHV (presión aproximada de 10-10 mbar), con analizador de energía PHOIBOS 150 9MCD, fuentes de rayos X monocromática (con ánodo doble Al/Ag) y no monocromática (con ánodo doble Al/Mg), fuente de electrones para compensación de cargas, fuente de fotones ultravioleta, fuente de iones y cámara de pretratamiento de muestras (HPC).
     
    Personal
    Dr. Miguel Antonio Peña Jiménez (Investigador responsable)
    Dr. José Carlos Conesa Cegarra (Investigador responsable)
    Dra. Cristina García Diego (Director Técnico y Analista) - Persona de contacto

    Política de Calidad
    Este Servicio dispone de un Sistema de Gestión de la Calidad certificado por AENOR bajo la norma ISO 9001 (ER-0305/2008).
    En su Política de calidad, el Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica asume el compromiso de satisfacer los requisitos de esta norma, como medio para alcanzar y mantener un alto grado de calidad en todos los análisis realizados.
    Carta de compromisos
     
  • Equipamiento

    EQUIPAMIENTO

    Sistema de espectroscopía de fotoelectrones
    • Cámara de análisis con sistema UHV (presión aproximada de 10-10 mbar)
    • Analizador de energía SPECS PHOIBOS 150 9MCD con detector Multi-Channeltron (9 canales) para XPS y UPS
    • Fuente de rayos X no monocromática, con ánodo doble de Al/Mg
    • Fuente de rayos X monocromática, con ánodo doble de Al/Ag
    • Fuente de electrones, para compensación de cargas
    • Fuente de fotones ultravioleta, para análisis UPS
    • Fuente de iones, para perfiles de profundidad

    Cámara de introducción de muestras

    Cámara de reacción (HPC)
     


     
  • Servicio

    SERVICIO
     
    El Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica presta su apoyo analítico al personal investigador del Instituto de Catálisis y Petroleoquímica y resto de centros del CSIC, así como a Universidades, Centros de Investigación y Empresas u Organismos Privados, que así lo soliciten.
     
    Solicitud de análisis
    Para solicitar la realización de análisis se ha de cumplimentar la Solicitud XPS y/o Solicitud UPS, y entregarla junto con las muestras al Director Técnico del Servicio.
    En el caso de que se desee pretratamiento a presión y temperatura y posterior análisis, por favor, rellene únicamente el formulario de Solicitud HPC+Análisis.

    Guía de funcionamiento
    Antes de entregar la Solicitud, por favor, lea atentamente la Guía sobre el funcionamiento del Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica
     
    Datos de contacto
    Director Técnico y Analista del Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica:
    Dra. Cristina García Diego
    Localización:
          Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica – Laboratorio S11
          Instituto de Catálisis y Petroleoquímica (CSIC)
          C/ Marie Curie 2
          28049 Cantoblanco, Madrid, España
    Teléfono: 915854634
    Fax: 915854760


    Plazo máximo de entrega de resultados por Hoja de Solicitud
    Análisis XPS 4 meses
    Análisis decapado iónico + XPS 6 meses
    Análisis HPC + XPS 6 meses
    Análisis UPS 4 meses
    Notas:
    Plazos de entrega vigentes para solicitudes de análisis posteriores a 12/11/2019.
    Los plazos están referidos a días naturales.
    Los plazos están condicionados a tener depositadas las muestras a analizar en el Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica.
    Con el objetivo de no aumentar los tiempos de espera de otros usuarios, para aquellos investigadores principales que entreguen más de 1 Hoja de Solicitud cada 15 días en cualquiera de las técnicas ofertadas por el Servicio, se duplicará el plazo de entrega de resultados.
    Cuando se soliciten condiciones de análisis especiales así reflejadas en los Anexos a las Hojas de Solicitud, el plazo de entrega de los resultados dependerá de la demanda del Servicio en cada momento, siendo el plazo máximo de 6 meses.
    Estos plazos pueden sufrir modificaciones debido a períodos vacacionales, permisos, ausencias, falta de disponibilidad de personal, etc.
  • Tarifas

    TARIFAS DE ESPECTROSCOPÍA FOTOELECTRÓNICA DE RAYOS X (XPS)

    Institutos y Centros CSIC
     
    33.88 €/hora (H2020)
    8.49 €/hora (otros proyectos)
     
    Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
    ICTS, Fundaciones y Universidades
     
    66.26 €/hora
     
    Resto de Entidades 100.97 €/hora


    TARIFAS DE PERFIL DE PROFUNDIDAD (DECAPADO IÓNICO + ANÁLISIS XPS)

    Institutos y Centros CSIC
     
    33.88 €/hora (H2020)
    10.79 €/hora (otros proyectos)
     
    Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
    ICTS, Fundaciones y Universidades
     
    68.73 €/hora
     
    Resto de Entidades 104.72 €/hora


    TARIFAS DE PRETRATAMIENTO A PRESIÓN Y TEMPERATURA (HPC) + ANÁLISIS XPS

    Institutos y Centros CSIC
     
    33.88 €/hora (H2020)
    10.79 €/hora (otros proyectos)
     
    Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
    ICTS, Fundaciones y Universidades
     
    68.73 €/hora
     
    Resto de Entidades 104.72 €/hora


    TARIFAS DE ESPECTROSCOPÍA FOTOELECTRÓNICA ULTRAVIOLETA (UPS)

    Institutos y Centros CSIC
     
    67.77 €/muestra (H2020)
    22.98 €/muestra (otros proyectos)
     
    Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
    ICTS, Fundaciones y Universidades
     
    139.08 €/muestra
     
    Resto de Entidades 211.93 €/muestra


    Notas:

    Tarifas vigentes para solicitudes de análisis posteriores a 17/01/2020.

    En el caso de que la tarificación sea por hora, sólo se computarán las horas enteras (redondeadas al alza) de pretratamiento efectuado o de análisis de espectros entregados al usuario.

    Se aplicarán tarifas especiales con aquellas entidades con las que existan acuerdos o convenios.

    Cuando corresponda, se aplicará el IVA que esté en vigor.

    Estas tarifas no incluyen la interpretación de resultados.

    Los resultados de Perfil de Profundidad se entregarán por tiempo de decapado. En el caso de que se desee por unidad de profundidad y el Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica no disponga de los datos para las condiciones de análisis que el solicitante desee, éste ha de suministrar el material de referencia, así como también se hará cargo económicamente del perfil de profundidad del mismo.
  • Otros datos

    FUNDAMENTOS DE XPS
     
    Con el fin de ayudar a los usuarios de XPS, se puede descargar una clase sobre XPS impartida por Miguel Antonio Peña Jiménez en el contexto de diferentes cursos sobre caracterización de materiales inorgánicos. La presentación describe los fundamentos básicos de la técnica y da las bases para la manipulación e interpretación de espectros.


    OBERON

    Pulse aquí para descargarse la Hoja de cálculo Oberon MS Excel 97, que permite determinar todas las líneas XPS y Auger que puede presentar una determinada muestra, a partir de su composición atómica elemental. Al abrir el fichero, se debe elegir la opción "Habilitar Macros". Es una versión a prueba, por lo que se admiten (y agradecen) las sugerencias de los usuarios.


    ENLACES XPS

    Bases de datos XPS:

    Lasurface CNRS-VG Scientific

    Base de datos de XPS, Auger y UPS desarrollada por el CNRS con asistencia de VG Scientific.

    NIST XPS Database

    Base de datos de XPS del NIST (National Institute of Standards and Technology).


    Asociaciones:

    UK Surface Analysis Forum

    Bases de datos, Técnicas de Ciencia de Superficies, Cursos, Noticias, Revistas, Conferencias, Grupos de Investigación y enlaces de interés.

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