• Presentación

    MICROSCOPÍA DE FUEZAS ATÓMICAS Y EFECTO TÚNEL


    Objetivo

    Dar apoyo a la investigación científica tanto interna (del ICP) como externa (de otros centros del CSIC, OPIs, universidades y empresas)mediante las técnicas de Microscopías de Fuerzas Atómicas (AFM) y de Efecto Túnel (STM).
     
    Equipo y accesorios

    Se dispone del equipo “Agilent 5500 ScanningProbeMicroscope” de alta resolución, ubicado en el interior de una cámara, sobre la que está colgado, para el aislamiento de vibraciones, que permite adquirir / registrar imágenes mediante técnicas en modo contacto o acústico (técnicas AFM o ACAFM) o mediante efecto túnel (STM).
    Es un equipo muy versátil pues dispone de los accesorios necesarios para:
    ·         Análisis de superficies al aire o sumergidas en medio líquido.
    ·         Control de temperatura
    ·         Control de la atmósfera de medida
    ·         Medidas electroquímicas combinadas tanto con los modos AFM como STM
    Asimismo, se dispone del software “PicoImage”, compatible con el software de adquisición “PicoView”, para el tratamiento avanzado de imágenes.
     
    Personal
    Dra. Marisela Vélez Tirado (Responsable científica)
    Dr. Manuel Sánchez Sánchez (Responsable técnico).
  • Servicio

    SERVICIO

     
    Guía de servicio
    Como paso previo a cualquier solicitud de los servicios de AFM-STM ofertados en el ICP es en cualquier caso altamente recomendable leer con atención la Guía de Servicio (Guía de servicio_AFM-STM.pdf), e imprescindible si se solicitan los servicios por primera vez o no se está familiarizado con la técnica y/o el equipo.
    Asimismo, antes de tramitar cualquier solicitud, se recomienda el contacto con los responsables científico (Marisela Vélez: marisela.velez@icp.csic.es, Tel. 915854802) y/o técnico (Manuel Sánchez: manuel.sanchez@icp.csic.es, Tel. 915854795).
    No se permite que los solicitantes (externos o internos) manejen el equipo. El responsable técnico o, en su ausencia, el responsable científico estará presente en todo el proceso de medida o análisis.
     
    Solicitudes
    Una vez leída la Guía de Servicio y contactado con los responsables, es necesario descargar la solicitud (Solicitud_AFM-STM.doc) y enviarla debidamente cumplimentada a la dirección de correo (manuel.sanchez@icp.csic.es). El técnico se pondrá en contacto con el solicitante para fijar día y hora de análisis y resolver cualquier tipo de duda que pueda surgir.
     
    Tipos de servicio
    Las medidas experimentales ofrecidas se pueden clasificar en dos grandes tipos:
    1.       Convencionales: Medidas tanto por técnicas AFM o STM tanto de muestras sólidas como líquidas, sin control de atmósfera ni de temperatura.
    2.       Avanzadas. Se englobarían todo tipo de experimentos que requieran el uso de medidas bajo atmósfera controlada, a temperaturas diferentes a la ambiente y/o con la celda electroquímica.
    Como servicios adicionales, se ofrece el tratamiento de imágenes y el apoyo en la interpretación de resultados.
    El servicio de microscopía dispone de un laboratorio de preparación de muestras básico con ultrasonidos, micropipetas, disolventes convencionales (etanol, acetona, etc.) y soportes exfoliables de carácter hidrófobo (grafito), hidrófilo (mica) y conductores (grafito y oro).
  • Tarifas

    Tarifas vigentes (año 2019) para el servicio AFM-STM

    Variante Unidad de Coste* CSIC y Campus de Excelencia
    UAM-CSIC
    Externos
     
    CSIC
     proyectos H2020
    Otros proyectos OPI / AGE/ /Universidades (excepto UAM) Otros
    No ICP ICP
    Scanning Probe Microscopy (AFM and STM) €/ hora  45,75 25,25  
     21,53
     
    87,21 95,52
    Atomic Force Microscopy (en líquido) €/ hora 45,72 37,58  
     32,04
     
    100,88 110,49
    Atomic Force Microscopy (temperatura variable) €/ hora 45,72 99,80  
     85,08
     
    101,51 111,18
    Atomic Force Microscopy (celda electroquímica) €/ hora 45,72 123,83  
     105,57
     
    196,18 214,87

    *Incluye la preparación de la muestra y material (puntas AFM).

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