• Presentación


    Nuestra función es apoyar a la investigación poniendo a disposición del personal científico la técnica de microscopia electrónica de transmisión.

    El equipo

    Disponemos de un equipo TEM/STEM (JEOL 2100F) operando a 200KV con un cañón de emisión de campo (FEG), obteniendo una resolución de punto de 0.19 nm. El equipo lleva además acoplado un detector EDX (INCA x-sight de Oxford Instruments), lo que le permite la posibilidad de análisis químico semicuantitativo.
     
    Al estar incorporada una unidad STEM, pueden adquirirse imágenes de contraste z (HAADF), así como la posibilidad de obtener análisis químicos de zonas de unos pocos nanómetros.
     
    Personal

    Dra. Isabel Diaz Carretero (Investigadora responsable)
    Dra. Laura Pascual Maroto (Responsable técnico)
     
  • Personal

    Pascual Maroto, Laura Gema
    Jefe de grupo
    Doctora en Física Aplicada por la U. Autónoma de Madrid en 2006. Realizó la Tesis Doctoral en el Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (CSIC) en el campo de la microscopía electrónica de transmisión y de materiales para cátodo en baterías de ión litio.
    Desde 2007 es  Responsable Técnico del Servicio de Microscopía Electrónica de Transmisión  del ICP
  • Servicio


    Para solicitar un servicio TEM, es necesario descargar la SOLICITUD y enviarla debidamente cumplimentada a la dirección de correo (laura.pascual@icp.csic.es). El técnico se pondrá en contacto con el solicitante para fijar dia y hora de análisis y resolver cualquier tipo de duda que pueda surgir.

    Antes de entregar la solicitud, por favor, lea atentamente las NORMAS DE FUNCIONAMIENTO DEL SERVICIO

    TIPOS DE SERVICIO
     
    Los tipos de servicio pueden describirse como:
     
    - Servicio CTEM: análisis convencional de distribución y morfología de partículas
    - Servicio HRTEM: análisis de alta resolución para obtener la estructura atómica del material con la posibilidad de difracción de electrones (SAED).
    - Servicio STEM-HAADF: obtención de imágenes de contraste Z. Posibilidad de análisis EDAX en zonas nanométricas.
     
    Cualquier tipo de servicio puede ir acompañado de análisis EDX.
     
    El servicio de microscopía dispone de un laboratorio de preparación de muestras básico con ultrasonidos y material de laboratorio necesario para preparación de muestras en polvo.
     

  • Tarifas


    Tarifas actualizadas (a partir del 1 de abril de 2016)

    SERVICIO (€/hora) ICP CSIC/UAM UNIVERSIDADES / RESTO OPIS EMPRESAS
    CON TECNICO (CTEM) 28 36 75 150
    CON TECNICO (STEM) 35 50 80 150
    SIN TECNICO (Semiautónomo) 18 24 50 150
     *Consultar posibilidad
  • Noticias

    noticias descripcion
  • Galería

logo de CSIC